測厚儀用于用于涂層厚度測量和材料測試，具有通用性強、測量精度高、眾多不同的嵌入式測量模塊可進行個性化配置并帶有各種設備接口，各種不同的探頭，用于被測樣品不同的幾何形狀和厚度范圍。
測厚儀的特點：
儀器集成了探頭，便于操作
出色的重復精度
受基材透磁率、電導率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小
享有電導率補償技術（電渦流方法）
快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測量讀數
兩個背光液晶顯示屏，便于從各個角度讀取測量值，甚至可從儀器頂部讀取讀數
耐用的探頭和堅固的外殼
記錄測量值時可以發出聲音和視覺的信號
測厚儀的用途：
⊙適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
⊙頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用。
⊙能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化。
⊙畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）。
⊙圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中。
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