2019年10月23-26日北京分析測試學術報告會暨展覽會誠邀您的光臨

　　2019年10月23-26日，第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會“BCEIA2019”將在北京·國家會議中心隆重開幕，展出國內外500余家參展企業帶來的數千項新的產品和技術，如儀器設備、試劑、軟件和分析測試服務等；同時，作為BCEIA重要組成部分的學術報告會將繼續組織國內外科學家參加大會報告、10個分會報告（電子顯微鏡與材料科學、質譜學、光譜學、色譜學、磁共振波譜學、電分析化學、生命科學、環境分析、化學計量與標準物質、標記免疫分析）、專題論壇、墻報、同期會議，面向世界科技前沿，圍繞新原理、新方法、新技術等多個方面進行研討和展望。
 
我司將參加 北京分析測試學術報告會暨展覽會 
我們誠邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀！
 
廣州貝拓科學技術有限公司
展區： 北京·國家會議中心E5館
展位號：5E013  

參展產品：
自動型接觸角測量儀DSA-X Plus
DSA-X Plus 光學接觸角測量儀由貝拓科學自主研發設計生產，配置先進的高分辨高速工業相機搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優化的軟件進行計算擬合獲得準確的測試數據。儀器機構結合了人體工程學，提供人性化的自動化進樣調節、樣品臺調節、光學系統調節等，使測試變得而快速。  
 
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

透反射率測量儀RT100
RT100透反射率測量儀支持透過率和反射率測量，給出光譜曲線，可用于測試樣品的紫外到近紅外波段（寬可達200-2500nm）的透過率及反射率。采用一體式設計，樣品倉可以*閉合，把外界光的影響減到低。軟件簡單易用，自動判斷測量結果是否合格。
RT100廣泛地用于光學玻璃、薄膜、顯示、觸摸屏、手機蓋板等行業。配備積分球，可用于具有毛糙表面的樣品反射光譜和透射光譜測試，如聚光玻璃、毛玻璃等。 

誠邀您的光臨！

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